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專注光譜分析
光譜分析設(shè)備產(chǎn)品生產(chǎn)家18962188051
當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > > 測(cè)金儀 > EDX6000D熒光光譜測(cè)金儀
簡(jiǎn)要描述：熒光光譜測(cè)金儀EDX6000D概述：無(wú)損貴金屬檢測(cè)和Karat ID。XRF是一種廣泛使用、經(jīng)過(guò)驗(yàn)證和接受的化學(xué)分析方法，用于測(cè)定貴金屬的純度和細(xì)度。 XRF分析是一種多元素測(cè)試替代方法，它比火焰分析和化學(xué)測(cè)試更快、更便宜。 XRF可對(duì)您的銀、鉑和PGM金屬和雜質(zhì)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析，使其成為增強(qiáng)客戶信心和確保經(jīng)銷商可靠性的簡(jiǎn)便方法。
產(chǎn)品廠地：蘇州市廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-10-29訪 問(wèn) 量：1121產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 英飛思 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 165eV | 分析含量范圍 | 2ppm-99.999% |
| 元素分析范圍 | Ti-U | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
熒光光譜測(cè)金儀EDX6000D特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
全新設(shè)計(jì)的X射線直射樣品角度，避免樣品形狀對(duì)戒指或項(xiàng)鏈等彎曲樣品的最終結(jié)果的影響。
圖1-1 EDX-6000X射線角度圖1-2正常X射線角度。
>ESI EDX-6000設(shè)計(jì)緊湊，占用空間極小。
>用于分析的小點(diǎn)準(zhǔn)直器；能夠在0.5mm、1mm和3mm直徑的光斑之間自動(dòng)切換。使其更容易并適用于不同的應(yīng)用程序。
>一個(gè)易于使用的分析儀，只需按一下按鈕即可提供克拉和成分分析結(jié)果。
>快速輕松地創(chuàng)建結(jié)果證書。
>ESI EDX-6000可以聯(lián)網(wǎng)，以便在生成測(cè)試結(jié)果時(shí)輕松訪問(wèn)它們。
>分析儀是一個(gè)安全可靠的封閉光束系統(tǒng)，需要最少的培訓(xùn)。
>一鍵式操作提供最友好的客戶體驗(yàn)。
使用ESI EDX-6000 XRF分析儀：
>快速準(zhǔn)確地為現(xiàn)金換金件定價(jià)
>識(shí)別和表征各種合金，包括銀、鉑等
>鑒定樣品中的有毒元素
>管理精煉和熔化操作的質(zhì)量控制
>涂層厚度測(cè)量的更多選項(xiàng)
典型應(yīng)用：
• 金克拉鑒定
• 涂層厚度測(cè)量
• 有害金屬檢驗(yàn)：Cd、Pb、Ir、Ru
• 電鍍液分析
熒光光譜測(cè)金儀ESI EDX-6000 XRF規(guī)格：
緊湊型專業(yè)貴金屬檢測(cè)解決方案
ESI EDX-6000提供了兩全其美的優(yōu)勢(shì)。一款適合消費(fèi)者陳列室環(huán)境的漂亮分析儀，它也可以聯(lián)網(wǎng)以實(shí)現(xiàn)高生產(chǎn)力的 QA/QC 工作。 ESI EDX-6000可以輕松運(yùn)輸?shù)叫枰獪y(cè)試的任何位置。
集成攝像頭指示樣品分析點(diǎn)
安全的閉束XRF系統(tǒng)
50WX射線管，1000µA 電流（最大值），加上優(yōu)化的光束設(shè)置以進(jìn)行準(zhǔn)確分析
優(yōu)化校準(zhǔn)的一鍵式操作軟件，包括FP和EC方法
EDX-6000具有無(wú)標(biāo)準(zhǔn)的基本參數(shù)和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)校準(zhǔn)，可針對(duì)不同的貴重合金（金、銀、鉑、鈀）進(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。定制的結(jié)果和報(bào)告證書，包括分析結(jié)果、測(cè)試樣品的圖像、公司徽標(biāo)等，可以通過(guò)可選的PC軟件單擊按鈕生成。
ESI EDX-6000 6000測(cè)試性能
ESI EDX-6000 認(rèn)證金合金標(biāo)準(zhǔn)中金的準(zhǔn)確度
ESI EDX-6000 在認(rèn)證金合金標(biāo)準(zhǔn)中的Pt精度
產(chǎn)品咨詢
聯(lián)系人：張經(jīng)理
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