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簡要描述:元素分析光譜儀XRF8000B元素分析光譜儀?可對多種樣品形態(tài)進行元素成分分析,包括固體,液體,粉末,合金?多元素測試,可覆蓋元素周期表Mg鎂到U鈾?準(zhǔn)確,快速,無損?樣品基體自動匹配,可對多達30種元素同時分析?SDD檢測器,具有高計數(shù)范圍和出色的能量分辨率?可切換準(zhǔn)直器和濾光片?高清內(nèi)置攝像頭
產(chǎn)品分類
詳細介紹
品牌 | 英飛思 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,地礦,綜合 |
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元素分析儀 | Na-U |
元素分析光譜儀XRF8000B
元素分析光譜儀
為了滿足客戶日益更為嚴(yán)苛的測試需求,特別是對微量痕量元素測試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標(biāo)準(zhǔn),英飛思ESI全新開發(fā)了升級版EDX8000B---全元素XRF檢測光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測器,EDX8000B裝備了SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量,更好的光譜分辨率,使得檢測性能提高了2-3倍。其分析能力,靈活性和易操作性使其在多種應(yīng)用中具有廣泛的吸引力,包括合金貴金屬分析,材料研究,RoHS符合性測試,農(nóng)業(yè)和食品安全以及石油行業(yè)等。
無論是基本的質(zhì)量控制(QC)還是更為復(fù)雜的監(jiān)測或探測分析,EDX8000B光譜儀都是進行常規(guī)元素分析的可靠選擇
EDX8000B的優(yōu)勢:
•1.快速
硅漂移檢測器 (SDD) 大大縮短了測量時間,并提高了靈敏度
2.操作簡單,軟件友好
減少日常維護工作(無液氮運行),無需化學(xué)試劑和其他惰性氣體消耗
無需真空泵
適用于各種材料定性定量分析
3.三重輻射防護,使用安全
>>圖1-1,1-2可以清晰的看到,同樣測試條件下,8000B獲得了更好的Pb鉛測試光譜(圖中綠色部分為Pb元素光譜線,右圖Pb峰形更高,信噪比更好,分辨率更優(yōu),最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測試結(jié)果)
典型應(yīng)用
>金屬合金分析,貴金屬鑒定和測試
>采礦/地質(zhì)/精煉重金屬分析
>玩具/消費品/化妝品中重金屬分析
>RoHS2.0符合性測試
>潤滑油中磨損金屬元素分析
>環(huán)境分析/修復(fù)/土壤中的金屬
>糧食和農(nóng)業(yè)重金屬
>三元催化
>其他材料成分快速定性定量分析
元素測試專家EDX8000B
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大樣品腔:465mm*315mm*100mm |
儀器重量: 45Kg |
元素分析范圍:Mg12-U92鎂到鈾 |
可分析含量范圍:2ppm- 99.99% |
探測器:高分辨率Peltier制冷硅漂移檢測器 |
多道分析器: 4096道數(shù)字多道分析器 |
X射線發(fā)生裝置:高效大功率鈹窗光管 |
高壓發(fā)生裝置:線性電源+50KV高壓發(fā)生器 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |
>標(biāo)準(zhǔn)配置
純銀初始化標(biāo)樣 |
大尺寸樣品杯 |
USB 3.0數(shù)據(jù)線 |
X熒光專用測試薄膜 |
儀器出廠和標(biāo)定報告 |
保修卡 |
及時而專業(yè)的售后服務(wù)
>對客戶方操作人員進行技術(shù)培訓(xùn)
>現(xiàn)場安裝、調(diào)試、驗收服務(wù)
>產(chǎn)品終身維修
>免費提供軟件升級
>提供高效的技術(shù)服務(wù),在接到用戶故障信息后,8小時內(nèi)響應(yīng),如有需要,48小時內(nèi)工程師上門維修和排除故障
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