土壤重金屬測試儀各組成部件功能特點(diǎn)分享
2024-11-07
土壤重金屬測試儀具有檢測速度快、準(zhǔn)確度高、操作簡便等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于環(huán)保機(jī)構(gòu)的土壤污染監(jiān)測、農(nóng)業(yè)生產(chǎn)的土壤質(zhì)量評(píng)估以及科研機(jī)構(gòu)的土壤污染研究等領(lǐng)域。該儀器的出現(xiàn)，為及時(shí)發(fā)現(xiàn)并防止土壤重金屬污染提供了有力支持，是保護(hù)土壤健康、保障農(nóng)產(chǎn)品安全的重要工具。土壤重金屬測試儀通常由多個(gè)部件...
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一文與您分享XRF鍍層測厚儀的常見故障解決方法
XRF鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無損檢測方法。但是由于測量對(duì)象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測量誤差，為確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，有必要對(duì)其進(jìn)行不確定度分析。鍍層厚度的測試方法按照測試方法的基本原理類型可以分為化學(xué)法、電化學(xué)法和物理法三大類。其中，化學(xué)法包括化學(xué)溶解分析法、化學(xué)溶解稱重法和化學(xué)溶解液流計(jì)時(shí)法；電化學(xué)法包括電化學(xué)陽極溶解法(庫侖法)；物理法包括直接測量法和儀器測量法(磁性法、非磁性法、X射線法和電鏡法等)。下面咱們來...
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XRF鍍層測厚儀常用到的測量方法分享
XRF鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測儀器，主要用于電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。XRF鍍層測厚儀常用到的測量方法都有哪些呢？1、磁性測厚法適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測量精度高。2、渦流測厚法適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測...
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不知道了吧！熒光鍍層測厚儀有五種測量原理可選
熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。今天小編要與大家分享的是熒光鍍層測厚儀的五種測量原理：1、磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高。2、超聲波測厚法：目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多...
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使用熒光鍍層測厚儀時(shí)所應(yīng)該遵守的規(guī)定分享
在當(dāng)今社會(huì)，要實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的保護(hù)或裝飾作用，在化工，電子，電力，金屬，家具等行業(yè)中通常采用噴涂油漆，有色金屬，陽極氧化膜，電鍍層等，若需要檢測該物體表面的覆蓋層厚度，即需要應(yīng)用到熒光鍍層測厚儀了。熒光鍍層測厚儀測量時(shí)在空中按開機(jī)鍵開機(jī)，然后聽到“bi”的一聲，漆膜測厚儀進(jìn)入測量狀態(tài)，每次開機(jī)默認(rèn)單次測量狀態(tài)；將探頭輕壓到有涂層的金屬基底上，測厚儀發(fā)出bibi兩聲，顯示被測涂層厚度值n；按MODE鍵，可選擇測量方式，有單次測量、連續(xù)測量、差值測量三種測量方式可供選擇；按UNIT鍵...
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簡述XRF熒光光譜合金分析儀的常見故障原因及解決方法
XRF熒光光譜合金分析儀是根據(jù)X射線熒光光譜分析方法配置的儀器，由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精密度好、性能穩(wěn)定、分析速度快等特點(diǎn)，是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能儀器。由產(chǎn)生熒光的原理可知，熒光從產(chǎn)生到*消失，它有一個(gè)時(shí)間過程（即從高能級(jí)的非穩(wěn)態(tài)躍遷到低能級(jí)的亞穩(wěn)態(tài)或穩(wěn)態(tài)的時(shí)間）。不同的物質(zhì)，這個(gè)時(shí)間的長短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測器的快門一個(gè)延遲時(shí)間，讓激發(fā)光*消失后開始對(duì)熒光采樣。在一些特...
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簡述XRF熒光光譜合金分析儀常用的三種測量方法
XRF熒光光譜合金分析儀是用于銅合金及其合金材料中硅、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳、鋅、銅、錫、鉛等元素分析的三通道光電分析儀。這一儀器在技術(shù)基礎(chǔ)上，采用了“智能動(dòng)態(tài)跟蹤”和“標(biāo)準(zhǔn)曲線的非線性回歸”等*技術(shù)，使傳統(tǒng)的儀的日常調(diào)整和標(biāo)樣曲線的建立方法起了根本性的變化，現(xiàn)已大量地應(yīng)用在冶金、機(jī)械、化工等三班倒連續(xù)作業(yè)以及雜技上對(duì)固定的場合，如爐前、成品來料化驗(yàn)等。該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要...
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鍍層測厚儀EDX8000T plus全新發(fā)布
鍍層測厚儀EDX8000Tplus全新發(fā)布經(jīng)過多年研發(fā)，英飛思科學(xué)儀器全新推出X射線熒光光譜鍍層測厚儀。主要優(yōu)點(diǎn)：微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì)高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器(SDD)可實(shí)現(xiàn)快速，無損，高精度測量高分辨率樣品觀測系統(tǒng)，精確的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量背景介紹材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性...
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