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產(chǎn)品分類
Simply The Best 微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì),可分析不規(guī)則樣品厚度 高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速,無損,高精度測量 高分辨率樣品觀測系統(tǒng),可移動高精度樣品平臺,準(zhǔn)確快速定位測試點(diǎn)位 全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對多層鍍層及單鍍層厚度和材料成分進(jìn)行測量 搭載高精度手調(diào)X-Y平臺,使微區(qū)測量更便捷
材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確,快速,無損,操作簡單,測量速度快??赏瑫r(shí)分析多達(dá)五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。
膜厚儀X射線鍍層測厚儀EDX8000T 膜厚儀EDX-8000T 型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀 Simply The Best 垂直光路設(shè)計(jì),專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì) 高分辨率硅針檢測器 (Si-pin) ,適合于多元素鍍層的高靈敏度分析,比起傳統(tǒng)的封氣正比計(jì)數(shù)器,Si-pin探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲(最高 S/N 比)長期穩(wěn)定性以及更長的使用壽命 工業(yè)級高清樣品觀測系統(tǒng)
X射線鍍層測厚儀EDX8000T PLUS 微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì) 高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速,無損,高精度測量 高分辨率樣品觀測系統(tǒng),精確的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度 全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量
EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時(shí),EDX-8000B光譜膜厚儀測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
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