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Simply The Best 微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設計，可分析不規(guī)則樣品厚度 高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速，無損，高精度測量 高分辨率樣品觀測系統(tǒng)，可移動高精度樣品平臺，準確快速定位測試點位 全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及單鍍層厚度和材料成分進行測量 搭載高精度手調(diào)X-Y平臺，使微區(qū)測量更便捷

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